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NXQ 4006紫外雙面光刻機

NXQ 4006紫外雙面光刻機.jpg


儀器簡介

光刻機/紫外曝光機 (UV Aligner)。本機型為接觸、接近式光刻機,可雙面對準曝光。


性能指標

光刻參數(shù):

襯底尺寸:5mm*5mm~ 100mm*100mm chip ;Φ2"~Φ6" wafer;

掩膜版尺寸:2.5"~7"

對準精度:± 0.5μm

分辨率:0.6μm


應用范圍

可應用于MEMS器件、薄膜晶體管、紅外傳感器、激光器等半導體產品的研發(fā)及生產。適用于Si、GaN、GaAs、InGaAs、InP、石英片、藍寶石片等多種襯底材料,適合碎片、圓片等不同基片尺寸。


工藝圖:


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